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Japanese Patents

光学測定器用サンプルホルダおよび光学測定器, 特許第7425428号, 2024年1月23日
中島雄太,西川昌平
出願人:国立大学法人熊本大学,西川計測株式会社
       
 

Nakatsuma, K., Michiuchi, D., Munekata, M., Kobayashi, Y., Miyaji, K.
“Coating device and coating method”, Japanese Patent Application No. 2022-007423, January 20, 2022

 

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